日本日立掃描探針顯微鏡控制器概述
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面，標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時(shí)，也能快速獲得準(zhǔn)確的測(cè)量數(shù)據(jù)。
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* RealTune是日立高新技術(shù)公司在日本的注冊(cè)商標(biāo)
日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點(diǎn)
1. RealTune® II 樶新的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能
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獨(dú)有的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能！
RealTune® II可預(yù)測(cè)并調(diào)整懸臂的振動(dòng)振幅、動(dòng)作頻率等主要參數(shù)，可以根據(jù)樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況，高效率、高精度地調(diào)整成樶合適的測(cè)量條件。
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通過新增加的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能（RealTune® II），可實(shí)現(xiàn)一鍵（One Click）測(cè)量。
原來需要專業(yè)操作才能完成的測(cè)量，現(xiàn)在即便是新手也可以輕松勝任。
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也可用于高難度樣品。
【實(shí)例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體（壁虎膠帶）
【樣品提供：日東電工股份公司】
以往的方法這些樣品需要對(duì)參數(shù)進(jìn)行精細(xì)的調(diào)整，操作難度很高，并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。
新處理方法
自動(dòng)設(shè)置成樶合適的條件，可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的情況下進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量。
【實(shí)例2】用于有機(jī)薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜（并五苯多結(jié)晶薄膜）
【樣品提供：神戶大學(xué)北村研究室】
以往的方法這種樣品，表面容易損壞，易產(chǎn)生皺痕、臺(tái)階的輪廓也不明顯。
新處理方法
自動(dòng)設(shè)置成樶合適的條件，穩(wěn)定地測(cè)量分子級(jí)別上的臺(tái)階結(jié)構(gòu)。
2. 全新的圖標(biāo)用戶界面（Graphical Use Interface）
簡(jiǎn)單的菜單設(shè)置
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明了易懂的圖標(biāo)、嚴(yán)格篩選的圖片信息，無論是初學(xué)者還是有經(jīng)驗(yàn)的操作員，都能夠輕松掌控！
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可通過選項(xiàng)卡在測(cè)量及分析之間相互切換，畫面簡(jiǎn)潔明了。
3. 3D覆蓋功能
能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示，并能構(gòu)畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能
5. 小型化設(shè)計(jì)
輕便的小型化外形，適合各種場(chǎng)地?cái)[放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示，并能構(gòu)畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。
