日本日立200kV球差校正透射電鏡HF5000

日本日立200kV球差校正透射電鏡HF5000概述

日立發布的200kV球差校正透射電鏡HF5000，具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃;可配置EDS雙探頭，固體角樶大可達2.0sr;具備TEM、STEM，SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式;鏡筒和樣品臺經過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩定性……HF5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。

日本日立200kV球差校正透射電鏡HF5000特點

★ 高度自動化球差校正，盡量減少人員介入，適用于繁忙的分析測試中心或設備平臺;

★ 三位一體呈現(TEM、STEM、SEM)，內部結構成像和表面結構成像可同時進行同時獲取;
★ EDS超大球面角，無窗口探頭。可實現快速，高靈敏度化學成分分析;
★ 前瞻性平臺總體設計，為性能擴增預留選項，例如可擴增為氣體環境電鏡。